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| 対象の品質検査時間を約50％削減 |
東京, 2018年6月18日 - (JCN Newswire) - NECは、JSR株式会社(本社：東京都港区、代表取締役社長：小柴 満信、以下 JSR)に、製品検査工程の省力化を実現するため、AIを活用した目視検査ソリューション「AI Visual Inspection」(注1)を提供しました。JSRは、本ソリューションを2018年7月から利用開始します。
JSRはこれまで、多品種化や出荷リードタイム短縮などの市場ニーズに柔軟に対応するため、製品品質検査において検査手法の改善・自動化や検査体制の強化など様々な改善を行ってきました。しかし、高いスキルが求められる検査要員の育成には時間を要するとともに、高い業務負荷がかかるという課題がありました。
今回NECはJSRに、NECの最先端AI技術群「NEC the WISE」(注2)の1つである「RAPID機械学習技術」(注3)をベースとした目視検査ソリューション「AI Visual Inspection」を提供しました。
これにより、JSRにおける半導体材料の品質検査(要因分類)業務の省力化を実現します。またJSRは、検査の高速化や均質化および状況に応じた対象製品の柔軟な拡大が可能になるとともに、熟練者と同じ高い精度で迅速かつ高効率に要因分類ができる体制作りが可能となり、現場作業負荷の低減にもつながります。
なおJSRは、検証の結果、本システムを導入した品質検査の業務負荷を約50％削減できると見込んでいます。
NECは今後も、JSRによる国内外・多拠点の工場への本ソリューションの展開を支援し、JSRのより高品質な製品の提供と現場作業員の業務負担軽減の両立に貢献していきます。
なお、NECは本内容を、「第29回設計・製造ソリューション展(DMS)」(会期：6/20(水)～22(金)、会場：東京ビッグサイト(東京都江東区))に出展します。
本リリースの詳細は下記をご参照ください。
https://jpn.nec.com/press/201806/20180618_02.html
概要：日本電気株式会社（NEC)
詳細は www.nec.co.jp をご覧ください。
Topic: Press release summary
Source: NEC Corporation
Sectors: Cloud & Enterprise
https://www.acnnewswire.com
From the Asia Corporate News Network
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