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2015年11月9日 9時45分 HKT/SGT
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Source: OKI
OKI、パワー半導体向け「ロックイン赤外線発熱解析サービス」を拡充
国内唯一、印加電圧±3000Vの非破壊故障解析サービスを提供

東京, 2015年11月9日 - (JCN Newswire) - OKIグループの信頼性評価と環境保全の技術サービスを展開するOKIエンジニアリング(社長:柴田 康典、本社:東京都練馬区、以下OEG)は、このたび、非破壊で電子部品・基板の故障箇所を特定する「ロックイン赤外線発熱解析サービス」の印加電圧を±3000Vまで大幅に拡大し、10月15日より提供開始しました。印加電圧を±3000Vに対応させたロックイン赤外線発熱解析の受託サービスは、国内で唯一となります。今回のサービス拡大により、高電圧下での故障状況の再現を求められるお客様のニーズに対応します。

パワー半導体は電気自動車・電車のインバーター装置や電子機器の電源装置等重要な部分に使用されています。最近ではエネルギー変換効率の良いSiC(注1)やGaN(注2)等新素材のパワー半導体が実用化され、さらに省エネルギー化が期待されることから、パワー半導体市場は急成長しています。OEGはパワー半導体に関し電気特性評価、パワーサイクル試験、熱抵抗測定など、さまざまな評価解析に対応しています。

OEGでは、発熱を利用した高精度、高感度な故障位置特定手法である「ロックイン赤外線発熱解析サービス」を2013年より提供してきました。ただし、印加可能なバイアス電圧が±210Vであったため、それ以上の高圧時に漏れ電流が大きくなる故障モードのパワー半導体に対しては故障解析に必要な高電圧印加ができませんでした。

今回、OEGはこの試験設備を改良・増設し、解析時の印加可能電圧をこれまでの±210Vから、日本で唯一のサービス提供レベルとなる±3000Vに拡大しました。これにより、パワー半導体の高電圧下での微小リークなどの故障位置特定が可能となりました。さらに、これまで提供していたロックイン赤外線発熱解析とX線検査、電気的特性評価、パッケージの開封、着脱などの加工を総合的に行う故障解析サービスシステムについても、印加電圧を同様に拡大し提供します。

OEGは、今後もお客様のニーズに対応した試験、評価技術の向上や設備の充実を図り、試験設備を保有しない電子機器メーカーの設計・開発・製造を支援していきます。

【販売計画】
価格: 9万円~/1件(税抜き)
販売目標: 4,000万円/1年
サービス提供開始時期: 2015年10月15日

【リリース関連リンク】
ロックイン赤外線発熱解析: http://www.oeg.co.jp/Rel/L-Inthermo.html

【用語解説】
※1 SiC
ワイドバンドギャップ半導体の一種で炭化ケイ素
※2 GaN
ワイドバンドギャップ半導体の一種で窒化ガリウム

概要:沖電気工業株式会社

OKIは米国でグラハム・ベルが電話機を発明したわずか5年後の1881年に創業した、日本で最初に電話機を製造した情報通信機器メーカーです。先見性と勇気をもって果敢に挑戦・行動するという、創業以来の「進取の精神」を連綿と受け継ぎ、ブランドスローガン「Open up your dreams」のもと事業展開しています。現在、「金融システム」「通信システム」「情報システム」「プリンタ」「電子部品・モジュール他」の5つの分野において、OKIグループは社会の発展に寄与する最先端技術の商品・サービスをお客様にお届けし、世界の人々の快適で豊かな生活の実現に貢献しています。詳細はこちらからご覧ください。 http://www.oki.com/jp/

本件に関する報道機関からのお問い合わせ先
OKI 広報部 葛
電話: 03-3501-3835
e-mail: [email protected]

本件に関するお客様からのお問い合わせ先
OKIエンジニアリング 信頼性解析事業部
電話: 03-5920-2354
お問い合わせフォーム URL: https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k036

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