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| 設計時の見落としリスクを軽減しつつ検証時間を大幅短縮 |
東京, 2018年5月11日 - (JCN Newswire) - 日本電気株式会社(以下 NEC)と国立研究開発法人 産業技術総合研究所(以下 産総研)は、発生確率が極めて低いため設計段階で事前に発見が難しい不具合を、AI(人工知能)が学習をしながらシミュレーションを繰り返して効率的に見つけ出す「希少事象発見技術」を開発しました。本技術は、NEC の最先端AI技術群"NEC the WISE"(注1)の1つです。
本技術はAI技術とシミュレーション技術を融合させ、複雑な条件の組合せでまれに起こる不具合の探索を効率化し、製品設計段階で熟練の専門家が費やしていた検証時間の大幅な短縮と複数不具合の見落としリスクを軽減します。
今回、本技術を光学機器の設計検証に実際に適用したところ、発生確率が1億分の1程度とまれであるものの、性能低下の原因となる「迷光」(注2)について、熟練の専門家が1週間を要していた検証作業を約1日に大幅に短縮し、複数の不具合を見落とすことなく発見することに成功しました。
本技術により、今後複雑化する機器の設計/生産や社会インフラの運用において人の判断を支援し、まれであるが重大な結果をもたらす不具合を設計段階で事前に発見して除去できることで、製品の品質やインフラ運用における信頼性の更なる向上に貢献します。
本リリースの詳細は下記をご参照ください。
https://jpn.nec.com/press/201805/20180511_01.html
概要：日本電気株式会社（NEC)
詳細は www.nec.co.jp をご覧ください。
トピック: Press release summary
Source: NEC Corporation
セクター: Cloud & Enterprise
https://www.acnnewswire.com
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