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| 「NEC Advanced Analytics – RAPID機械学習」を強化 |
東京, 2018年5月8日 - (JCN Newswire) - NECは、画像データを用いた検品業務の効率化などを実現する、NECのAI技術群「NEC the WISE」(注1)の1つであるディープラーニング(深層学習)技術を搭載したソフトウェア製品「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習」を強化し、本日より販売活動を開始します。
不良品を検出する検品業務にAI(機械学習)を導入する際、従来は良品・不良品双方の画像データを1000件規模で事前学習する必要がありましたが、製造精度の高い日本の工場などでは、不良品データを大量に収集する事が困難なため、検品業務にAIを導入しにくい、という課題がありました。
「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習」は、高精度な画像認識やデータ関連性の分析を行う軽量・高速なAIエンジンとして、工場ラインでの検品業務などに活用されていますが、今回新たに、良品データのみで学習可能なOneClass分類アルゴリズム(注2)を導入することにより、製造品質が高く不良品データを入手しにくい製造業においても、検品業務にAIが適用可能となりました。
これにより、大量生産の工場ラインにおいて、長時間かつ均一な判断を求められる検品業務の効率化が可能となり、企業のDX(デジタルトランスフォーメーション)の実現に貢献します。
本リリースの詳細は下記をご参照ください。
https://jpn.nec.com/press/201805/20180508_01.html
概要：日本電気株式会社（NEC)
詳細は www.nec.co.jp をご覧ください。
トピック: Press release summary
Source: NEC Corporation
セクター: Cloud & Enterprise
https://www.acnnewswire.com
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